一、AOI機(jī)在掃描過程中出現(xiàn)頻繁錯(cuò)位

　　答：錯(cuò)位的情況分兩種，一種是物理錯(cuò)位，一種是光錯(cuò)位。

　?、傥锢礤e(cuò)位指PCB板在檢測(cè)時(shí)相對(duì)對(duì)位時(shí)物理位置有偏移，且偏移位置大于AOI系統(tǒng)自動(dòng)糾正范圍。

　　針對(duì)物理錯(cuò)位，針對(duì)偏移的位置太大，可以通過重新對(duì)位來解決，如果還有偏移調(diào)節(jié)敏感度參數(shù)就好了。

　?、诠鈱W(xué)錯(cuò)位指PCB板因反光度相對(duì)對(duì)位時(shí)灰度臨界有較大的差異，從而使AOI對(duì)位時(shí)默認(rèn)的臨界灰度值無法清晰識(shí)別銅和基材。

　　光學(xué)錯(cuò)位，簡(jiǎn)單分析是PCB板反光度不一致，每一檔案號(hào)進(jìn)行掃描都需要對(duì)位，對(duì)位不僅僅是使CAM圖像與實(shí)際掃描影像進(jìn)行吻合，同時(shí)CCD鏡頭通過掃描各個(gè)采光點(diǎn)進(jìn)行灰度攝取，將結(jié)果通過數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換以數(shù)據(jù)段的形式把銅面和基材進(jìn)行灰度臨界區(qū)分，所以不同的采光點(diǎn)及不同的銅面反光度都直接影響灰度臨界值的變化，因此在掃描過程中如果出現(xiàn)板面反光強(qiáng)度不一致的時(shí)候，原有灰度臨界值無法識(shí)別區(qū)分銅面和基材而出現(xiàn)光學(xué)錯(cuò)位，針對(duì)此類錯(cuò)位我們可以通過改變采光點(diǎn)，一般選擇銅面于基材分布比較均勻的區(qū)域進(jìn)行采光或者對(duì)反光有差異的PCB板進(jìn)行區(qū)分篩選，分開檢驗(yàn)。

　　以上是AOI機(jī)掃描過程容易碰到的問題和處理方法，希望能給大家?guī)韼椭?